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无线局域网 制造测试技术的发展

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无线局域网(WLAN)是移动通信发展最快的领域 。在过去的短短几年中 ， 基于IEEE802.11b的无线网络技术已经取得了巨大的成功 ， 其推动力正是家庭或办公室中价格适中的互联网接入服务的增长 。然而 ， 人们仍不断追求吞吐量更高的网络 ， 而且要求服务品质不受影响 。IEEE802.11a和IEEE802.11g正是能很好满足这些要求的技术 ， 它们能提供比802.11b 更高的数据率 ， 峰值数据率达到了54Mbit/s ， 而802.11b的峰值数据率仅为11Mbit/s 。标准的发展使得WLAN器件日益复杂 ， 假如性能要达到预期水平而且让双波段或多格式器件在市场中流行开来 ， 则这些复杂的设计需要更完备和更彻底的制造测试方法 。
　
图1 基于黄金射频的制造系统
图2 集成化的WLAN测试装置制造系统
WLAN接入点和网络接口卡的制造主要是由合同制造商(CM)和原始设计制造商(ODM)完成的 。将测试成本维持在低水平上对于这些CM和ODM来说有着非常重要的意义 。降低测试成本的一些要害性因素包括：
大多数WLAN制造测试采用基于“黄金射频”(golden radio)的系统 ， 它们由一个已知的、优良的“金子般的”WLAN射频装置、一台频谱分析仪、功率计和电源组成 。此外 ， 为了让DUT能得到专有的测试模式处理并控制黄金射频系统 ， 还需要一套测试控制软件 。
基于黄金射频的系统虽然经常被视为价格合理的测试系统 ， 但它们也存在一些内在的问题 ， 这些问题使得它们不太适合于双波段/多格式无线电系统 ， 也就是说 ， 它们是专有型的 ， 不能测量误差矢量幅值(error vector magnitude ， EVM) 。
基于黄金射频的测试系统属于专有型的测试系统 ， 这是由它的本质特征所决定的 。它以同种芯片组/器件作为DUT 。ODM和CM都依靠芯片组厂商提供支持 ， 对这些黄金射频系统进行校准、操作和维护 。与支持这些系统所需的工程化努力相应的成本随着待测器件产量和种类的增加而上升 。
基于黄金射频的测试系统无法测量EVM：802.11 a/g射频标准采用了种类较多的调制方法 ， 从802.11b系统的BPSK/QPSK格式一直到用于高数据率任务的64QAM 。对于双波段和多格式射频装置来说 ， 要实现与其它射频的成功互操作 ， 制造商必须确保发射机具有高品质 ， 这也意味着它们的EVM必须得到测试 。然而 ， 直到最近 ， 测试EVM的设备对于制造环境而言 ， 还是昂贵得无法承受 。
采用了简单调制方法的802.11b标准 ， 其效果并非强烈地依靠于调制的质量 。数据码元可以容许出现较高的误差率而不至于导致位错误或者包错误 。在低比特率系统中 ， 在达到调制精度测试极限前发射机性能的下降一般出现在频谱屏蔽(spectral mask)中 。
对于802.11a/g中使用的更高级格式(如64QAM) ， 调制的品质更为重要 。调制的误差会造成数据码元的误判 ， 最终将会限制传输范围和数据吞吐量 。正因为如此 ， 调制精度测试对多格式射频来说极为要害 ， 而802.11a/g 规范要求通过测量EVM对发射机的调制品质进行测试 。EVM测量出已调制载波和理想参考信号间的差别 ， 是对WLAN芯片组设计、开发所获得的调制精度的测量 。
对成本敏感的制造商 ， 所面临的困难选择在于：直到最近为止 ， 市场上所能买到的、可以对WLAN所要求的(大带宽范围内)EVM进行测量的测试设备价格都较为昂贵 。所以 ， 制造商已经努力对黄金射频系统采用的流程进行调整和扩展 ， 来对调制品质进行测量 。基于黄金射频的系统进行一种称为发送包错误率(transmit packet error rate ， TXPER)的测试 ， 这种测试与EVM测试目标类似(即对发射机上的调制品质进行验证) 。

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