X-RAY无损检测X光射线 (以下简称X-Ray) 是利用一阴极射线管产生高能量电子与金属靶撞击,在撞击过程中,因电子突然减速 , 其损失的动能会以X-Ray形式放出,其具有非常短的波长但高电磁辐射线 。
而对于样品无法以外观方式检测的位置 , 利用纪录X-Ray穿透不同密度物质后其光强度的变化,产生的对比效果可形成影像即可显示出待测物之内部结构,进而可在不破坏待测物的情况下观察待测物内部有问题的区域 。
检测项目:
【x-ray检测设备是用来做什么的】1.IC封装中的缺陷检验如﹕层剥离(stripping)、爆裂(crack)、空洞(cavity)以及打线的完整性检验 。
2.印刷电路板制程中可能产生的缺陷,如﹕对齐不良或桥接(bridging)以及开路(open) 。
3.SMT焊点空洞(cavity)现象检测与量测(measuration) 。
4.各式连接线路中可能产生的开路(open) , 短路(short)或不正常连接的缺陷检验 。
5.锡球数组封装及覆芯片封装中锡球(solder ball)的完整性检验 。
6.密度较高的塑料材质破裂(plastic burst)或金属材质空洞(metal cavity)检验 。
7.芯片尺寸量测(dimensional measurement),打线线弧量测 , 组件吃锡面积(Solder area)比例量测 。
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